Проблема устойчивости микропроцессорных реле к преднамереным электромагнитным воздействиям
Гуревич В.И.
В статье, состоящей из двух частей, описаны проблемы защиты МП реле от преднамеренных деструктивных электромагнитных воздействий (электромагнитный импульс высотного ядерного взрыва, электромагнитные бомбы, ультраширокополостные направленные генераторы большой мощности) и пути решения этих проблем.